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Microelectronics Reliability《微电子学可靠性》 （官网投稿）

简介
  • 期刊简称MICROELECTRON RELIAB
  • 参考译名《微电子学可靠性》
  • 核心类别 SCIE（2023版）, 目次收录（知网）,外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY纳米科技；PHYSICS, APPLIED物理：应用

主要研究方向：

等待设置主要研究方向
工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY纳米科技；PHYSICS, APPLIED物理：应用

Microelectronics Reliability《微电子学可靠性》（月刊）. Microelectronics Reliability, is dedicated to disseminating the latest research results and related informa...[显示全部]
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征稿信息

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1、投稿方式：在线投稿。

2、期刊网址：

https://www.sciencedirect.com/journal/microelectronics-reliability

3、投稿网址：https://www.editorialmanager.com/micrel

4、期刊刊期：月刊，一年出版12期。

2022年10月26日星期三


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