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期刊封面

Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology (JM3) （或：JOURNAL OF MICRO-NANOPATTERNING MATERIALS AND METROLOGY-JM3）《微/纳米图案化，材料与计量学期刊》（原：Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS）

季刊 - 美国

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国际标准刊号：ISSN 1932-5150；EISSN 2708-8340

期刊语言：英语

出版区域：美国

定价：0

出版地址：SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS , 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, USA, WA, 98225

期刊邮箱：

投稿网址：https://jm3.msubmit.net/

期刊网址： https://www.spiedigitallibrary.org/journals/journal-of-micro-nanopatterning-materials-and-metrology

出版商网址： http://www.spie.org

Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology (JM3) （或：JOURNAL OF MICRO-NANOPATTERNING MATERIALS AND METROLOGY-JM3）《微/纳米图案化，材料与计量学期刊》（原：Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS）（官网投稿）

简介

期刊简称J MICRO-NANOPATTERN
参考译名《微/纳米图案化，材料与计量学期刊》
核心类别 SCIE（2023版）, 高质量科技期刊（T3）, 外文期刊,
IF影响因子
自引率
主要研究方向MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY；OPTICS；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY

Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology (JM3)《微/纳米图案化，材料与计量学期刊》（季刊）. The Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology (...[显示全部]

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